半導(dǎo)體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗(yàn)箱廠家

更新時(shí)間：2023-06-17

簡要描述：

半導(dǎo)體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗(yàn)箱廠家吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于光伏組件、LED燈管、LED燈具、電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要冷熱沖擊試驗(yàn)箱的鑒定

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詳細(xì)介紹

一、半導(dǎo)體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗(yàn)箱廠家用途：

吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于光伏組件、LED燈管、LED燈具、電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要冷熱沖擊試驗(yàn)箱的鑒定

二、半導(dǎo)體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗(yàn)箱廠家詳細(xì)參數(shù)：

一、產(chǎn)品屬性
1.1容積：80L
1.2工作室尺寸		350400350mm (寬×高×深)
1.3 外形尺寸		140019151950mm(寬×高×深)
1.4 沖擊形式		低溫高溫按程序自動(dòng)交變，轉(zhuǎn)移樣品提籃，提籃式.
1.5供電電源		380V±10%,50Hz±1
二、主要技術(shù)參數(shù) 三、
2.1 高溫室	高溫蓄溫箱溫度范圍	+60℃～＋180℃
	高溫沖擊溫度	+60～150℃
2.2 低溫室	低溫蓄溫箱溫度范圍	-10℃～-60℃
	低溫沖擊溫度	-10℃～-40℃
2.3.工作室	溫度波動(dòng)度	≤0.5℃
	溫度偏差	≤±2℃
	溫度均勻度	≤2.0℃（左右循環(huán)風(fēng)道溫度均勻性更完善）
	高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間	≤10S
	高低溫恢復(fù)時(shí)間	≤5min（空載下非線性）
	預(yù)熱區(qū)升溫速度	≥3~5℃/min（非線性）
	預(yù)冷區(qū)降溫速度	≥1.2℃/min（非線性）
2.4沖擊溫度范圍		-40~150℃
2.5噪音		70dB以內(nèi)
2.6化霜周期		1000次循環(huán)無需要化霜（常規(guī)30個(gè)循環(huán)就化霜）

2.7 滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)	1、1.IEC 60068-2-14環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化,
	2、GB/T 2423.22環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化,
	3、GJB 150.5裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn),
	4、JESD 22-A106B.01-2016溫度沖擊等。。。